二手 JEOL JSM 6460LV #293764869 待售

JEOL JSM 6460LV是一种高性能扫描电子显微镜（SEM），专为广泛的应用而设计。这种先进的仪器提供各种特性和功能,包括高分辨率成像、深度剖析、X射线映射和化学状态成像。JEOL JSM-6460LV采用了一种冷场发射枪（CEG）电子源，在高真空和长工作距离下可实现优异的图像分辨率。CEG源的寿命为10,000小时,在30 kV时分辨率为3 nm,在1 kV时分辨率为1.2 nm。此外,在工作距离为10 mm时,它的最大放大倍数可达500 kx。该仪器提供多种成像模式，包括亮场、暗场、差分干涉对比度（DIC）、偏振分析和全色成像。它还提供了电子反向散射衍射（EBSD），允许以纳米尺度分辨率测定材料的质地和取向。另外，EBSD可以与X射线映射相结合，分析纳米尺度的样品组成。JSM 6460LV具有一个"慢跑穿梭"阶段，允许极其精确和精确的样品定位与可重复的精度。这对于深度剖析等应用特别有用，允许对样品深处的二维和三维结构进行精确的调查。先进的分析仪系统可以量身定制，以满足用户的特定需求；它同时使用多达五个探测器，包括电子能量损失系统、X射线探测器、阴极发光探测器、反向散射探测器和分析探测器。另外还可以为特定应用添加两个检测器，如角度解析X射线分析或硬X射线或BSE成像。最后，JSM-6460LV还配备了全面的软件，为所有测量和分析提供了一个用户友好的界面。该软件提供对成像参数的完全控制,并具有一系列图像分析和数据建模工具。这使用户能够轻松分析、操作和解释数据,从而提高准确性和精度。