二手 JEOL JSM 6460LV #9244467 待售

ID: 9244467
优质的: 2002
Variable Pressure Scanning Electron Microscope (VP-SEM) Tungsten electron emission tip: 30 kV Vacuum / Gas pressure: 10-270 Pa Large specimen chamber With 5-Axes motorized Magnification: 5x - 3,00,000x (3) Segment solid state back scattered electron detectors: Composition mode imaging Topography mode imaging Shadow mode imaging Tungsten filament SEI, BEI in HV electron detectors BEI in LV electron detectors (2) Oil pumps included Operating system: Windows 2000 2002 vintage.
JEOL JSM 6460LV扫描电子显微镜(SEM)是现有最先进的SEM之一。它是一种用于成像表面和控制电子束相互作用的高性能仪器。此设备非常适合需要高分辨率和卓越图像质量的应用。JEOL JSM-6460LV具有低真空、低振动设计,可实现最佳成像性能。配备钨丝和LaB6热场发射枪,最大分辨率和柔韧性。该系统还具有独特的用于低能成像的高分辨率滤波器,使其能够捕获细微的细节,如非常小的粒子和缺陷。JSM 6460LV具有用于SEM成像的高灵敏度、低噪声Everhart-Thornley探测器。它提供了卓越的动态范围和快速的响应时间,允许表面结构的无损成像。该探测器还具有最高检测灵敏度的高量子效率。6460LV装置采用自动对焦机设计,成像时精度最高。该工具还包括一个辅助电子探测器,用于获取有关表面结构的低深度信息。自动定心和标记功能使正确对齐样本变得更加容易。该SEM具有高速、大面积的阶段,用于快速扫描大样品。它能够扫描高达30nm的样品。该资产还具有高达每秒5,000帧的扫描速度,以便快速获取图像。JSM-6460LV扫描电子显微镜提供了最高水平的成像性能在SEM可用。它的低真空、低振动设计、Everhart-Thornley探测器,以及强大的功能使得这款车型非常适合进行详细的表面成像。凭借其高分辨率功能和自动化功能,用户可以获得最高精度的高质量成像。
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