二手 JEOL JSM 6480LV #9285443 待售

JEOL JSM 6480LV扫描电子显微镜（SEM）是一种先进的分析仪器，用于绘制和分析介电和金属表面。JSM 6480LV提供了高分辨率的二次电子成像功能,可提供卓越的图像质量以及卓越的景深和改进的信噪比。JEOL JSM 6480LV具有标本和探测器之间较大的工作距离和较大的视野,提供了更高的详细程度。AE探测器配置的标准图像分辨率高达Everhart-Thornley,横向分辨率高达3.5nm,每张图像分辨率为5.2nm,提供了一种可更好地显示小型结构、表面特征和样品干涉图样的成像模式。该系统还包括一种专用的低真空成像技术，允许在没有样品制备的情况下进行样品成像。这样就可以捕获微米级物理特征,而无需在分析之前和分析过程中进行样品制备处理。JSM 6480LV旨在提供包括反向散射电子成像、化学映射、能量色散X射线光谱（EDS）、X射线荧光（XRF）和扫描螺旋微分析（SAM）在内的一系列分析技术。这些技术提供了高精度的微观结构分析、化学成分鉴定和元素映射。JEOL JSM 6480LV包括一个自动采样器,该采样器允许将样品划痕并放置在室内进行自动分析,而无需手动放置样品。高能分辨率离子束源确保了高度详细的化学成像和分析。JSM 6480LV配备了一个自动化的标本级,可以连续扫描和成像大型样品,而无需手动调整或重新定位样品。该系统有一个计算机控制的超高真空（UHV）腔室，用于样品安装，确保分析前后表面的完整性。JEOL JSM 6480LV是研究材料物理和化学性质的宝贵工具，用于微加工工艺优化、光伏/太阳能电池、纳米材料/纳米电子学和故障分析等一系列应用。高分辨率功能可实现复杂表面特征的精确成像和分析。该系统可靠、可靠,方便灵活,是高级样品分析的通用解决方桉。