二手 JEOL JSM 6490LA #9285392 待售

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ID: 9285392
Scanning Electron Microscope (SEM) Tungsten filament Specimen exchange chamber / Airlock Secondary electron detector and backscatter detector Chamber camera Does not include EDS or anti-vibration pads Operating system: Windows 7.
JEOL JSM 6490LA是一种扫描电子显微镜(SEM),广泛应用于材料科学、工业检验、故障分析等多个领域。它利用高度先进的技术提供令人难以置信的图像分辨率。JSM 6490LA配备了独特的高性能扫描发生器,经过专门开发,可以产生更明亮、对比度更高的图像。它旨在支持倾斜和旋转测量,允许用户以优化的性能捕获高精度样本的三维图像。SEM具有提供1.5 nm分辨率的低真空性能系统和能够检测能量从1eV到40 keV的电子的检测系统。此功能强大的系统使用户能够生成分辨率高达5nm的图像。显微镜还采用两种不同的样品界面来容纳各种样品类型和大小。第一种是自动化的样品更换器,可以同时处理多达20个不同的样品。二是手动样品架,使用户可以快速有效地将样品定位在室内。JEOL JSM 6490LA还设计有可更换的微碳真空源,允许极端水平的真空。这大大降低了SEM产生的图像中的背景噪声。此功能有许多应用,例如延长SEM的使用寿命和允许收集地形图像。JSM 6490LA是一种非常强大的分析和探索工具,是各种实验室应用的理想选择。它的先进技术和令人难以置信的高成像分辨率为实验和检查提供了无与伦比的图像和数据。对于那些在工作中需要最高水平成像精度的人来说,这是一个极好的选择。
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