二手 JEOL JSM 6490LV #293594823 待售
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ID: 293594823
Scanning Electron Microscope (SEM)
Magnification: 8x to 300,000x
Image mode: SEI, BEI, Low vacuum BEI
Probe current: 1 pA to 1 µA
Low vacuum mode resolution (BEI): 4 nm at ACC 30 kV, WD: 5 mm
Pressure: 10 Pa to 270 Pa
Lowest pressure: 1 Pa
Image mode: BEI-Composition-topography
No DP
Lens: Electromagnetic 2-stage zoom condensor
Lens type: Objective lens (Supper conical mini lens)
Dynamic focus: Linked to AccV and magnification auto focus tracer
Wobbler
Automatic focusing (AFD)
Specimen stage type: Eucentric
Maximum acceleration voltage: 30 kV
Vacuum pump:
Primary: Turbo pump
Secondary: Rotary pump
Resolution:
3 nm at ACC 30 kV, WD: 8 mm, SEI
8 nm at ACC 3 kV, WD: 6 mm, SEI
15 nm at ACC 1 kV, WD: 6mm, SEI
Full automatic stage (X, Y, Z, R, T):
X: 125 mm
Y: 100 mm
Z: WD: 5 mm to 48 mm
Tilt: -10° to 90°
Rotation: 360° (Endless)
Operating system: Windows 7.
JEOL JSM 6490LV是一种扫描电子显微镜（SEM），以其卓越的图像分辨率，高分辨率成像（HRI），使用寿命长而闻名。它利用电子束获取样品的图像。这款SEM完全自动化，具有完全集成的试样级、集成的双检测器系统和真空系统。JEOL JSM-6490LV是一种可提供高达1 nm分辨率的SEM,能够以高达100,000 x的倍率生成三维图像。它针对需要高分辨率成像的薄膜材料、金属和其他材料进行了优化成像。精确的光束控制和高级成像功能,加上其自动化功能,使JSM 6490LV成为材料表征、故障分析和研究应用的理想工具。JSM-6490LV的双重探测器对二次电子、反向散射电子和X射线信号提供了优越的灵敏度和检测。探测器从一定角度收集信号，并为需要复杂对准和多方向成像的样品提供充分的便利。JEOL JSM 6490LV产生的图像提供了良好的对比度和精确的细节，使其成为缺陷分析的理想仪器。JEOL JSM-6490LV有一个全自动的标本级，可以编程为线性和角运动，分辨率为0.1 μ m（10 nm）。这使得使用者可以快速准确地重新定位标本，从而改善成像和分析。先进的试样导航和位置控制确保每次成像时总是在同一个试样上使用正确的设置。标本级还配备了环境控制和防振选项，最大限度地减少成像过程中的任何运动失真。JSM 6490LV扫描电子显微镜为广泛的材料表征应用提供了一种有效的成像解决方桉。是故障分析、纳米级成像、研究的理想仪器。其卓越的分辨率、自动化功能和先进的双探测器使其成为需要精确和详细成像结果的实验室设置的绝佳选择。
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