二手 JEOL JSM 6490LV #293811638 待售

JEOL JSM 6490LV扫描电子显微镜（SEM）是一种用于材料研究的强大仪器.它结合了二次电子成像原理和高分辨率分析能力。这台仪器配备了肖特基场发射枪（FEG），发射高聚焦电子束用于透射和扫描电子显微镜。FEG具有低电压、高电流和极低的电子能量扩散。这使得高分辨率成像在亚纳米尺度和更好的分析标本。除了卓越的成像能力外，JEOL JSM-6490LV还配备了最先进的能量色散X射线光谱仪（EDX）。这一分析成分可准确收集化学成分数据，包括样品中存在的元素及其相对浓度。此外，EDX的利用通过提供额外的见解而增加了SEMs的成像能力，而这些见解并不是单独在二次电子图像中看到的。EDX系统还包括高效无窗检测器、高灵敏度多通道分析仪，以及功能强大的能量色散X射线微分析软件包，方便快速的样品分析。JSM 6490LV还配备了牛津INCA X-Flash EDX探测器。这进一步提高了EDX系统的准确性，因为它提供了低能量灵敏度的元素高达铂金和优秀的信噪比。牛津INCA还具有较低的计数率能力，可以对微量元素进行更详细的分析。JSM-6490LV是一个高度通用的SEM,具有多种映像功能。它可用于低压和环境扫描电子显微镜（ESEM）模式。在低压SEM模式下，显微镜在0.3到25kV的电压范围内工作，提供无与伦比的图像分辨率。然而，在ESEM模式下，JEOL JSM 6490LV能够进行广泛的环境研究，并且能够检测到高真空和低大气压（低至0.1毫巴），而无需中间的真空室。总体而言，JEOL JSM-6490LV是一种功能强大的扫描电子显微镜，具有出色的成像和分析研究功能。适用于广泛的研究应用，包括粒子分析、形态学研究、综合材料分析。此外，JSM 6490LV能够在低压和环境扫描电子显微镜模式下工作。这使得它成为从事材料科学、地质、生物医学研究和纳米技术高级研究的研究人员的理想工具。