二手 JEOL JSM 6490LV #9229495 待售

JEOL JSM 6490LV扫描电子显微镜（SEM）是一种高度先进的仪器，用于对各种材料的三维结构进行成像和分析。其最先进的设计具有一个可精确控制运动的大型5轴舞台,允许快速扫描大面积区域。这使6490LV成为进行一般材料调查和分析的理想选择。该6490LV具有高电子场发射的电子柱和40,000至90,000V的大场发射枪（FEG）源。电子光学包括一个扫描线圈冷凝器系统，为最佳成像条件和从10倍到15,000倍的放大倍数提供各种冷凝器设置。18-60mm的宽可选工作距离可用于操作多个附件,如探测器、透镜和样品支架。该6490LV配备了多种探测器，可同时成像多种类型的信号信息。这包括一个6k x 8k像素分辨率的反向散射检测器，以获取高分辨率的SE（次级电子）图像。它还包括高分辨率SE1检测器、高灵敏度BSE（反向散射电子）检测器和可选的EBSD（电子反向散射衍射）检测器，用于微观结构表征。强大的X射线探测器使6490LV能够生成用于化学分析的X射线图和剖面图。它包括四套探测器；闪烁探测器、能量色散X射线光谱仪（EDS）探测器、无线电渗透探测器和波长色散X射线光谱仪（WDX）。EDS和WDX检测器能够高分辨率、高精度地分析元素组成.该6490LV的设计考虑了用户的便利。彩色触摸屏面板可轻松控制SE/BSE检测器、电压调节、舞台设置和数据采集。内置的设计灵活性功能允许用户在环境模式和分析模式之间快速切换。总之，JEOL JSM-6490LV扫描电子显微镜是一种先进、通用的仪器，能够对各种材料进行成像和分析。其出色的电子光学、可选择的采样级和检测器阵列为用户提供了广泛的功能范围，使其成为研究和分析的理想选择。