二手 JEOL JSM 6500F #293625725 待售
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ID: 293625725
Scanning Electron Microscope (SEM)
Deben beam blanker
Raith lithography piloting
PC.
JEOL JSM 6500F是一种用于学术和工业成像应用的大功率扫描电子显微镜(SEM)。它是世界一流的仪器,分辨率为1纳米,具有高速扫描能力。JEOL JSM-6500 F由电子光柱结构提供动力,该结构包括提供高分辨率SEM图像的EC-CS型电子枪和获得JEOL专利的像差校正器,可提高图像质量,同时减少对成像样品的辐射损伤。JSM 6500F还配备了支持能量色散X射线光谱(XEDS)探测器和JEOL专有真空设备。XEDS探测器提供各种元素和能量,从而能够分析样品元素,如碳和氮。结合真空系统,JSM-6500 F在整个扫描和分析过程中安全保持高度真空。JEOL JSM 6500F有很大的视野,从8 x 10毫米到40 x 40毫米,可以成像大小样本。结合电子光学和扫描单元使JEOL JSM-6500 F能够以高达1纳米的高分辨率捕获大型图像。这种组合机器可以用来测量和分析几乎任何材料的结构。此外,JSM 6500F还配备了数字图像处理套件,可提高图像清晰度、访问噪声滤波器以及专用成像的亮度和对比度。对于执行专用应用程序的用户,JSM-6500 F可以配备各种辅助组件。这包括一个能量过滤工具来调节电子束中包含的能量,一个可以整合多种成像模式的多模式自动图像采集资产(AIA),STEM和SEM检测器,以及一个自动化的采样级,以方便准确的取样放置。总体而言,JEOL JSM 6500F是一款功能强大、可靠且用途广泛的SEM,提供高分辨率、卓越的图像质量和广泛的功能。它拥有广泛的成像选项,为高级研究、工业和教育应用提供了一个绝佳的平台。
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