二手 JEOL JSM 6500F #293825137 待售

ID: 293825137
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) EDX EBSD Schottky field emitter Tilt: 70° Retractable backscatter electron detector Maximum resolution: 2 nm Sample: Up to 2" diameter and 30 mm height Tilt: up to 70° Range: 5 - 30 kV Acceleration voltage: 0.5 kV - 30 kV Power supply: 0.5 kV - 30 kV, 2 nm, 5 - 30 kV.
JEOL JSM 6500F是一种先进的扫描电子显微镜(SEM),具有尖端的特性和能力,可满足广泛的学术和工业研究应用。JEOL JSM-6500 F具有高性能成像和分析能力,旨在提供高分辨率图像,并对各种微观和纳米级材料进行详细的化学分析。JSM 6500F具有高分辨率的冷场发射电子枪,使仪器在1 kV时实现高达1.0 nm的超高分辨率的卓越成像性能。这让用户能够对细节极为精细的样品进行分析,使其成为研究纳米材料、生物标本、聚合物和半导体的理想选择。显微镜还提供了范围广泛的放大选项,从5倍到300,000倍,为观察多个尺度的样品提供了灵活性。JSM-6500 F的一个突出特点是其先进的分析能力,其中包括能量色散X射线光谱(EDS)。这一集成的EDS系统允许用户对样品进行元素分析,以高灵敏度和准确性识别和量化材料的化学成分。该系统能够探测从硼到铀的各种元素,使其成为表征各种材料的有力工具。除EDS外,JEOL JSM 6500F还配备了波长色散X射线光谱(WDS)功能,与EDS相比提供更高的能量分辨率和峰底比。这使得它对于分析微量元素和具有复杂元素组成的材料特别有用。EDS和WDS的结合为用户提供了一个元素分析的综合解决方桉,使他们能够获得关于其样品的详细化学信息。JEOL JSM-6500 F具有一系列创新的成像模式,以适应不同的分析需求。除了次级电子(SE)和反向散射电子(BSE)成像等标准成像模式外,显微镜还提供低真空(LV)成像等特殊模式,使非导电样品无需涂层即可成像。这种特性对于易受常规SEM成像所需的高真空条件破坏的生物样品或材料特别有用。JSM 6500F配备了直观的用户界面和高级自动化功能,以简化操作和数据分析。显微镜能够快速获取高质量图像,以最小的用户输入完成复杂的分析任务,使其成为高通量研究应用的理想选择。该仪器还提供一系列图像处理和分析工具,从获取的图像中提取定量信息,如粒度分布分析、线形测量和相位映射。总体而言,JSM-6500 F是一种多功能、高性能的扫描电子显微镜,为广泛的研究应用提供先进的成像和分析能力。JEOL JSM 6500F具有超高分辨率成像、高级元素分析和用户友好界面,是从事材料科学、纳米技术、生物学和半导体工程等领域研究人员和工程师的宝贵工具。
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