二手 JEOL JSM 6510 #293601626 待售

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ID: 293601626
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6510是一种用于高分辨率成像和分析的扫描电子显微镜(SEM)。JSM 6510利用高性能电子柱进行高质量的成像和更高的加速电压(高达100kV)。这种具有小光斑尺寸、宽工作距离范围、低电子束发散的大功率、冷场发射枪(FEG),可以进行精确的成像和测量。JEOL JSM 6510还具有三维透镜内二次电子检测器,它最大程度地降低了杂散电子发射产生信号噪声的风险。此外,6510还有一个可选的镜头内反向散射电子检测器,它允许创建双检测器图像以分析地形和化学成分。6510还拥有一系列用户友好的功能,可帮助实现最高效的工作流程。例如,大型样品的电动机驱动级可以为成像和自动样品分析提供快速、准确的阶段定位。与JSM 6510兼容的扫描透射电子显微镜(STEM)功能允许高分辨率Z对比度成像和元素映射。此外,高对比度的亮场成像模式有助于对晶体平面和样品的微结构进行高双精度的观测。总体而言,JEOL JSM 6510为高级成像和分析提供了一个简单而精确的分析平台。这包括高分辨率成像和工程分析、化学分析和材料表征。此外,6510的"加仑"扫描功能允许具有计算机辅助图像处理功能的"色差校正",使其成为详细观察以及定量纳米分析的理想选择。
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