二手 JEOL JSM 6510LA #293607337 待售

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ID: 293607337
优质的: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM) 2010 vintage.
JEOL JSM 6510LA是一种扫描电子显微镜,能够提供高分辨率的成像和分析。这类设备广泛应用于材料科学、金相、电子学等领域,为样品提供表面和地下信息。JSM 6510LA具有广泛的功能,使其能够生成各种材料的精确和详细的图像。这包括一个肖特基电子源,它能够产生非常小的电子光斑大小,从而产生高分辨率的图像。此外,SEM还配备了镜头内二次电子探测器,能够观察样品的三维表面形态,并直接显示在监视器上。JEOL JSM 6510LA配备了一系列自动化功能,无需大量用户输入即可轻松操作和执行分析。这些功能包括自动图像缝合系统、自动样品对准系统、自动反向散射电子探测器和自动图像缩放系统。这些功能使用户能够快速准确地分析图像,而无需手动输入坐标或监视样本方向。除了自动化功能外,JSM 6510LA还配备了一系列手动控制,使用户能够调整电子束枪的设置。这包括加速度电压、光斑大小、亮度和散光等的设置。手动控制使用户能够精确控制电子束的参数,以生成根据其特定要求量身定制的图像。JEOL JSM 6510LA配备了多种分析能力,包括基于SEM的X射线色散光谱(XEDS)、电子反向散射衍射(EBSD)和能量色散X射线分析(EDAX)。这些分析技术使用户能够深入了解特定样品的结构和化学组成,从而能够作出更明智的决定。JSM 6510LA是一种可靠和强大的扫描电子显微镜,能够产生各种材料的详细和准确的图像。此SEM由自动化功能和手动控制组合而成,有助于准确分析样品的表面和地下特征,使其成为许多科学和工业应用中的宝贵工具。
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