二手 JEOL JSM 6510LV #293661215 待售
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已售出
ID: 293661215
优质的: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolutions:
3.0 nm at 30 kV
8 nm at 3 kV
15 nm at 1kV
LV Mode: 4.0 nm at 30 kV
LV Pressure: 10 to 270 Pa
Magnification: 5x to 300,000x
Image mode: REF Image, Composition, Topography, Shadowed, Secondary electron image
Accelerating voltage: 0.5 kV-30 kV
Pre-centered filament
Electron gun: Fully automated, Manual override
Zoom condenser lens
Conical objective lens
Electrical image shift: 50 µm at 10mm
Ethernet
Pumping system
Auto functions:
Focus
Brightness
Contrast
Stigmator
Specimen stage:
X: 80 mm
Y: 40 mm
Z: 5 mm to 48 mm
Tilt: −10° to 90°
Rotation: 360°
Operating system: Windows 7
PC: IBM PC/AT
2010 vintage.
JEOL JSM 6510LV是扫描电子显微镜（SEM）的一种。SEM采用最新技术,提供卓越的性能、更好的易用性和更广泛的功能。该设备旨在为用户提供观测标本纳米级特征所必需的纳米成像功能。该显微镜具有可变压力工作室，允许在低真空（低至0.3 Pa）或大气条件下观测，并提供样品制备自由。其新采用的肖特基场发射电子源和气场发射枪使高分辨率成像具有最小的样品制备能力。JSM 6510LV还包括一个能量色散X射线探测器，允许用户测量半导体结构和其他微小的组件。光谱仪还能够对样品中的每种元素进行定性和定量评估。显微镜的人性化设计允许广泛的应用。直接输入窗口允许用户输入图像采集过程的参数，而一键式按钮则提供了简单而高效的工作流程。显微镜还设有计算机控制系统，允许用户在无需手动输入的情况下设置各种参数。JEOL JSM 6510LV配备了先进的数码相机系统。图像可以存储为16位灰度或彩色JPEG文件。此显微镜还可用于使用USB或以太网电缆进行自动图像传输。为了提高显微镜性能,JSM 6510LV配备了具有可调图像对比度的Alpha射线探测器、具有电动X-Y-Z级的分级振动补偿系统,以及用于精确样品成像的电动聚焦机构。这种高度先进的显微镜是研究人员寻求先进SEM的理想选择。它的最新技术和特点使其成为广泛应用的理想选择，包括但不限于纳米级成像、半导体结构、微元素分析和其他研究领域。
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