二手 JEOL JSM 6510LV #293671225 待售

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ID: 293671225
优质的: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM) Does not include EDS 2010 vintage.
JEOL JSM 6510LV是世界一流的扫描电子显微镜(SEM),支持强大的成像和分析能力。它使用能量色散光谱(EDS)设备提供卓越的成像和微分析测量性能。该系统提供高真空和低真空两种模式的高分辨率图像。显微镜装有超高真空室,可达到5 × 10-6 Torr以上的水平。这种真空水平大大提高了使用高真空模式时的对比度分辨率和图像细节。低真空模式使用环保中性气体来减少束流。EDS单元由一个可延伸至8mm的搭接式搜索线圈组成。它具有超高分辨率测量功能,单个像素的绝对值降至0.02%。JSM 6510LV具有先进的可变压力成像机。此功能允许自动调整扫描压力,以达到5.10-3 Torr的最佳成像效果。显微镜还利用高分辨率反向散射检测器(BSD)来精确测量具有高Z对比度的样品。BSD利用四元氧化硼滤波器,通过降低噪声水平产生高质量的图像。此外,PAIS(图样分析和成像工具)通过应用分类模式提供最先进的成像和微观分析。JEOL JSM 6510LV也是为了尽量降低维护成本而设计的。它具有节省材料的O形环资产,可防止污染并减少频繁清洗的需要。综合环境控制模型(ECS)确保了显微镜在最佳条件下运行,以达到最佳性能。计算机控制的冷却设备保持噪音水平,允许低水平的振动和温度控制。最后,内置的数据库服务器有助于管理显微镜的设置和参数,以便于访问。总体而言,JSM 6510LV是一种先进的SEM,在高真空和低真空两种模式下都能产生优异的效果。它非常适合需要清晰详细图像以及高分辨率微分析测量的研究人员。此外,易于维护的设计有助于降低成本,同时确保最佳性能。
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