二手 JEOL JSM 6600 #177690 待售
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ID: 177690
Scanning Electron Microscope (SEM), 6"
Electromagnetic
Double-deflection
Lens system:
Condenser lens
Objective lens
Specimen movement range:
X-Direction: 160 mm
Y-Direction: 160 mm
Z-Direction: 31 mm
Tilt: 0° - 600°
Rotation (ESR Unit): 360° Endless
Objective apertures: 50, 70, 110, 170 µm In diameter
EDX Option
Magnification: 10x - 300,000x
Secondary electron image resolution (At 8 mm working distance):
35 kV 3.5 nm
1 kV 20.0 nm (Attainable)
Accelerating voltage:
0.2 to 40 kV (0.2 to 5 kV Variable in 0.1 kV steps, 5 to 40 kV variable in 1 kV steps)
Power: 200 VAC, Single phase, 30 A, 50/60 Hz, 6 kVA
1990 vintage.
JEOL JSM 6600扫描电子显微镜（SEM）是一种功能强大、用途广泛的仪器，可用于多种材料和应用。这台显微镜配备了能量色散X射线分析仪和在成像、化学分析等应用方面提供卓越性能的电子枪。该系统采用最新一代的场发射阴极，可以快速准确地扫描样品。此技术可确保卓越的图像分辨率,同时仍允许高达30,000倍的高放大倍率。该仪器还配备了一个具有大景深和高灵敏度的探测器，用于检测样品中存在的各种元素。SEM配备了一个电动扫描阶段和一个软件包，供操作员为给定样本定制设置。这包括阶段速度的设置、顺序扫描的时间控制、放大设置以及电子束电流和加速电压的调整。JEOL JSM-6600还配备了自动反向散射电子探测器，用于非导电材料的图像。该仪器利用计算机驱动的扫描算法跟踪样品中元素分布的精细细节。此外,JSM 6600还具有环形暗场成像、阴极发光成像和粒子探测器等先进功能,可检测样品中的颗粒。这种仪器还可以用来制作样品的三维图像。该系统还可以与其他工具结合使用，以实现更全面的分析。这包括使用扫描透射电子显微镜、电子能量损失光谱、能量色散X射线光谱和低能电子衍射。JSM-6600是一种通用的扫描电子显微镜，能够提供卓越的图像分辨率以及样品的化学分析。这种高性能仪器是先进材料分析应用的绝佳选择。
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