二手 JEOL JSM 6600FXV #9098215 待售
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ID: 9098215
Scanning Electron Microscope (SEM)
Part number: D39562000
Imaging and control system
Manuals included
Power: 200 VAC, 30 A, Single phase, 6 kVA.
JEOL JSM 6600FXV是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于材料的高分辨率成像和分析。它是一种顶级工具，针对电子束显微镜下的性能进行了优化。该显微镜使用场发射电子枪与集成常规磁性物镜设备进行操作。此外,JSM 6600FXV还具有固态EDX检测器系统（用于轴上能量色散X射线光谱）和用于捕获低噪声成像的高灵敏度数字信号处理器。SEM由一个可控加速电压范围为0.5至30kV的超高真空环境和一个高灵敏度的高分辨率显示单元组成。它有一个带有X, Y, Z样板驱动单元的样板室和一个用于样品定位和倾斜调节功能的样板架。其样品持有者可以容纳尺寸可达220 x 200 mm的样品。显微镜还配备了先进的图像处理机，为数据收集和处理提供了灵活性。JEOL JSM 6600FXV配备了丰富的分析特性，包括电子束感应电流（EBIC）工具、用于元素分析的EDX功能，以及可用于在微观尺度上表征材料的化学映射函数。EBIC资产使研究人员能够检测和测量样本中的局部电气类型和电流。EDX使用户能够实现样品表面的高灵敏度化学分析，化学图功能使用户能够分析样品内元素的空间分布。在从高真空到高压气体的各种条件下以及在扫描液池模式下对样品进行成像的能力使JSM 6600FXV成为一种通用仪器。此外，JEOL JSM 6600FXV先进的电子枪允许在分析条件下操作，这意味着该显微镜产生的结果和图像质量最高。JSM 6600FXV是一种先进的扫描电子显微镜,针对材料的高分辨率成像和分析进行了优化.它提供了现场发射电子枪、EDX检测器模型、图像处理设备、EBIC系统等多种特性，成为材料表征的宝贵工具。
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