二手 JEOL JSM 6610LA #9410816 待售

JEOL JSM 6610LA是一种扫描电子显微镜（SEM），旨在以超高放大倍率提供样品表面的高分辨率图像。它配备了能散X射线分析系统（EDX），能够以细胞分辨率分析样品元素。该系统可用于检查材料的结构、样品表面的化学性质以及样品组成的亲密性质。显微镜的放大倍率高达x 50,000，最小分辨率为0.8 nm。它使用钨丝电子源，在很宽的能量范围内提供电子。冷凝器透镜使用可变强度散光，可以更好地聚焦光束，而不会在高放大率下造成样品变形。该设计还具有孔径角止动装置，为控制电子束的大小提供了可变极高。试样级可以使用X-Y-Z驱动机构移动，使试样能够被推拉相对于电子束移动。舞台可容纳高达390mm × 305mm的样品，可倾斜至± 50°。还配备了一个自动舞台以允许自动扫描。JSM 6610LA有一个电荷补偿器，以减少静电力的影响，可以扭曲样品图像。这在成像塑料等非导电样品时特别有用。SEM软件旨在提供高精度的数字图像和数据。它可以存储操作参数和结果供将来参考。它还能够进行数据分析，可用于检测样品元素随时间的变化。JEOL JSM 6610LA为用户提供用于研究和工业领域的成像性能。它具有高分辨率的成像功能、灵活的舞台驱动机制和强大的数据分析软件,使其成为一个非常有价值的成像工具。