二手 JEOL JSM 6610LV #9410899 待售

ID: 9410899
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS Detector.
JEOL JSM 6610LV是一种扫描电子显微镜(SEM),具有先进的成像和分析能力。该6610LV是一款高性能的SEM,能够产生分辨率低至1.3纳米的高分辨率图像。它配有一个大腔室,适用于分析最大样本量可达200毫米直径的大而厚的样品。该6610LV提供了多种功能,例如高精度扫描、高度自动化、易于使用的操作系统和高水平的灵活性。与其他SEM相比,SEM的倒置设计允许扩大工作面积、增加样本量和提高真空水平。该6610LV还支持广泛的探测器,即二次电子(SE-1)、反向散射电子(BSE)、能量色散光谱(EDS)等。高性能扫描电子显微镜JEOL JSM 6610 LV能够实现高分辨率成像和分析。它支持卓越的分析和观察功能,适用于需要高分辨率成像和分析功能的各种用户。JSM 6610LV具有扩展的工作区域和较大的腔室尺寸,支持各种样本量和应用。此外,SEM高度自动化,操作简单。因此,6610LV是进行成像和分析材料研究的理想工具。
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