二手 JEOL JSM 6700F #293598389 待售

ID: 293598389
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Specimen holder: Range: X-Direction: 0 - 70 mm Y-Direction: 0 - 50 mm Z-Direction: 1.5 - 25 mm Tilt: 5 - 60 Rotation: 360° Resolution: 1.0 nm at 15 kV 2.2 nm at 1 kV Magnification: 25x - 650,000x Power supply: 0.5 - 30 kV.
JEOL JSM 6700F是一种扫描电子显微镜(SEM),设计用于与材料、生物分子和其他纳米材料相关的行业的研发应用。这种高分辨率显微镜对一次电子束产生的二次电子进行操作,并配有有助于提高SEM图像分辨率和精度的场发射枪。利用一种称为场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)的技术,JEOL JSM 6700 F提供了一种高度相干和低能电子束,能够分解到亚纳米范围内的特征。JSM 6700F利用极片式静电透镜和一系列冷凝器透镜对电子束进行聚焦,使仪器的精度和精度达到前所未有的水平。高级功能(如其特点的数字信号处理器(DSP)有助于减少有害的散射,并以增强的稳定性生成清晰的图像。JSM 6700 F还具有利用其高级阶段进行三个维度扫描的能力,使用户能够找到更深层次的样品,更好地洞察材料的内部结构。这使得它非常适合成像细胞、组织研究和纳米材料等应用。JEOL JSM 6700F的二次电子探测器(SED)也能够产生高质量的图像。该技术配合反向散射电子(BSE)检测器,以高电子散射角分析和成像区域,允许构建样品的三维图像。与其他SEM相比,这种高精度探测器还具有产生更高图像分辨率的额外优点。JEOL JSM 6700 F功能强大,为用户提供了广泛的功能,包括实时显微镜显示、自动对焦、压力调节成像、增强的空气屏蔽和低光学像差校正。该仪器几乎可用于任何工业环境,如半导体、航空航天和生物医学,强烈建议用于研究和/或开发应用。
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