二手 JEOL JSM 6700F #293600930 待售

JEOL JSM 6700F
ID: 293600930
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6700F是一种扫描电子显微镜(SEM),旨在提供样品表面的详细图像。它具有非凡的分辨力、高度的精确度和执行广泛分析技术的能力。该仪器有一个可变压力充电器,用于将内部大气保持在低真空状态,使用户能够进行独立于样品导电特性或特征的SE成像和EDX分析。通过利用入射电子束在样品上产生的二次电子和反向散射电子,JEOL JSM 6700 F使用户能够获得对非导电样品的高分辨率成像和定量微观分析。JSM 6700F配备了自动聚焦功能,可调节样品的焦点,提供最佳成像条件。其火炮和物镜设计提供了出色的分析性能,特别是与能量色散X射线设备的能量范围扩大相结合。利用能量色散X射线(EDX)系统,JSM 6700 F能够提供高达百万分之几百的元素灵敏度(p.p.m.)。SEM集成了现代数码相机,它使用慢速扫描和高速图像记录运动样本成像,使其能够提供卓越的分辨率图像,并显示样品微观结构的清晰而清晰的细节。可以调整记录时间的长度,从而进一步对具有动态特征的样品或可能需要较长时间才能达到稳定状态的样品进行成像。JEOL JSM 6700F的用户友好软件便于仪器操作。它包括一个用于重建扫描样本的三维形状的绘图单元、一个用于图像管理的库机以及用于定量分析的Multi-Element Analysis Applications软件。JEOL JSM 6700 F是研究和分析样品材料的工程师和科学家的宝贵工具。通过提供样品微观结构的详细和准确的图景,仪器使用户能够进行准确的观察和洞察样品材料,使其成为研究表面特性、材料科学和纳米技术应用的宝贵工具。
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