二手 JEOL JSM 6700F #293655231 待售

JEOL JSM 6700F扫描电子显微镜（SEM）是一种用于观察和分析各种样品的高性能仪器。由于其精细的探针尺寸和较长的工作距离，它提供了卓越的图像质量和分辨率。该6700F采用冷场发射枪（CFE gun），产生高质量的图像，具有优越的景深和极好的分辨率，放大倍数可达300,000倍。CFE枪产生低电子束电流，允许在低电压下运行，从而增加仪器的工作距离，可达100毫米。该6700F还具有25mm x 25mm的大固态成像面积，能够产生包括反向散射电子探测器（BED）和镜头内（IL）成像在内的各种对比度。此外，6700F可以配备可选的第二级检测器，以反射和透射两种模式提供二次电子成像。59mm的样品室可以容纳直径可达55mm的样品。样品室还具有自动控制和样品交换功能，可选配负载锁、冷冻冷却台和冷却台等配件。此外，该6700F具有优越的分析性能与可选的EDS系统专门为套件设计。EDS系统可以提供材料的元素分析，用于测量碳、氧和硫等轻元素。JEOL 6700F也是一个自动化的SEM，配备了扫描探针图像和分析（SPIA）和高级扫描螺旋显微镜（SAM）功能。SPIA通过将较大区域的线扫描和成像模式相结合，为纳米级表征提供3D成像，而SAM则允许对分辨率为0.1nm的微量元素进行分析。6700F也是一个X射线光子光谱（XPS）显微镜，它能够从表面收集高分辨率的X射线光谱。光谱文件可用于分析样品表面的元素组成和键合状态。总体而言，JEOL JSM 6700 F是一种通用的仪器，用于对各种样品进行成像和分析。它的冷场发射枪、3D成像功能、自动化样本室控制和XPS功能使其成为各学科研究人员的理想选择。