二手 JEOL JSM 6700F #293672256 待售

ID: 293672256
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6700F扫描电子显微镜(SEM)是一种前沿设备,旨在为用户提供一种功能强大而精确的工具,用于在纳米级表征材料的结构和组成。JEOL JSM 6700 F包含一系列功能和组件,以确保最高质量的成像和分析。JSM 6700F设备是围绕一个具有一系列数字自动化功能的全自动系统构建的。智能SEM功能即使在要求最苛刻的应用程序中也能实现快速、准确的操作。显微镜具有高通量扫描控制单元以及集成的热流控制机和先进的柱上自动对焦机构。这些功能结合在一起,可创建自动化、精确的成像和分析功能。显微镜有场发射枪(FEG),能够产生高解析度的影像。这种枪的扩展角低,焦深长,发散度低,放大倍率大。JSM 6700 F还附有可变压力级(VPS)。这一阶段可以调整到不同范围的大气压,从而有可能在不同的细节层次上分析标本。显微镜配有高分辨率二次电子探测器和亮场探测器。这些探测器可用于一系列成像、分析和测量操作,如识别高对比度区域、检测表面特征或裂缝以及绘制线扫描。JEOL JSM 6700F还附带了一系列用于数据分析和表示的软件工具。这些工具允许用户收集、绘制和分析来自一系列标本类型的数据。这包括图像变换、图像融合以及从图像创建三维表示的能力。此外,JEOL JSM 6700 F包含了一系列可以进一步提升显微镜能力的选项。其中包括场发射检测器、氧电池和柱加热器,以及一系列样品制备配件。这些附加功能有助于提高显微镜成像和分析操作的准确性和分辨率。总体而言,JSM 6700F扫描电子显微镜是一种功能强大、用途广泛的纳米级研究和分析工具。对于那些希望获得卓越的成像和分析性能水平的人来说,这是一个理想的选择。
还没有评论