二手 JEOL JSM 6700F #293775754 待售

JEOL JSM 6700F是一种具有场发射枪（FEG）的扫描电子显微镜（SEM），允许观测到纳米尺度以下的样品。该SEM中的电子源是一个FEG，它提供了比热电子发射器更稳定、更高的电流和更高的分辨率，从而提高了图像分辨率。此SEM专为成像、元素分析和自动化操作而设计。JEOL JSM 6700 F具有30至30kV的工作电压范围和高度可靠的液氮冷却系统。系统在可变压力（VP）或可变真空（VV）模式下运行。在VP模式下可能有1.2nm的下限检测，而在VV模式下则可以低至2.1nm。JSM 6700F的放大范围为10倍至500kX倍。在VP模式下,最大视场为400mm, 15kV时最大分辨率为1.2 nm。对于自动操作，JSM 6700 F配备了自动换样器（ASC）。此ASC允许快速更改样品设置,从而大大提高样品吞吐量和分析精度。JEOL JSM 6700F也可以从外部计算机控制，进一步提高潜在的数据采集速度。JEOL JSM 6700 F可用于高放大成像、元素分析、EBSD（电子反向散射衍射）和自动化样品分析等多种应用。它具有用于标准成像的二次电子（SE）检测器、用于分析非导电材料的反向散射电子（BSE）检测器、用于元素分析的能量色散X射线（EDX）检测器和提供三维图像的大深度场检测器。除了成像能力外，JSM 6700F还能够进行X射线微分析。EDX探测器能够对纳米级的材料进行元素分析，提供精确到超过1%的结果。JSM 6700 F适用于研究应用、研发、质量保证和故障分析.此SEM的采样功能和内置自动化功能使分析和数据收集能够快速轻松。