二手 JEOL JSM 6700F #9248482 待售

JEOL JSM 6700F扫描电子显微镜（SEM）是一种先进的成像和分析仪器,用于表征1 µm至50 µm的粒子。它具有卓越的成像能力,可放大5,000倍,并具有物理真空密封室,可安全重复操作。JEOL JSM 6700 F是一种专用的SEM，通过其电子柱提供出色的标本清晰度。该设备采用了最新的电子光学技术，使用户能够轻松快速地观察各种大小和形状的粒子。SEM旨在适应各种样本量、配置和样品安装技术,在各种材料和条件下提供最佳成像功能。JSM 6700F具有集成的可变压力chambel和独特的第二代可变压力探测器设计。这种功能组合通过最小化充电效果来提供图像清晰度和保留。SEM的可变压力探测器设计也允许在非常低的压力水平下操作，允许用户捕获各种材料和微观结构的详细图像，而不考虑样本量。JSM 6700 F采用多种模式和技术，从简单的固定中间放大倍率到高分辨率显微照相。它配备了一系列特定于模式的探测器和成像工具，可以在各种各样的样品环境中使用，包括传统的实验室设置。SEM还允许在各种连续和脉冲发射模式下运行，并允许用户在不同的操作参数之间切换。SEM的能量色散X射线光谱仪（EDS）促进了详细和高分辨率的元素分析。JEOL JSM 6700F还包括一些自动对准和校准功能,以确保一致和可靠的性能。此外，JEOL JSM 6700 F配备了一系列高端功能，可以让用户高效管理自己的数据和结果。SEM具有易于使用的数据管理系统和集成的报告功能,使用户能够快速轻松地报告其结果。总体而言,JSM 6700F是一种先进且功能丰富的SEM,可轻松可靠地对1 µm至50 µm的粒子进行成像和分析。集成的探测器和成像工具结合了自动对准和校准功能以及数据管理功能,为用户提供了一个全面的成像和分析平台,可确保一致和准确的结果。