二手 JEOL JSM 6700F #9294954 待售

JEOL JSM 6700F是一种来自JEOL的扫描电子显微镜（SEM）。它是一种先进的微观成像和分析仪器，能够产生高分辨率二次和反向散射电子图像。设备配有大型标本室和四轴机动级，允许对标本进行精确的导航控制。此外，系统还提供高放大倍率和低真空性能。JEOL JSM 6700 F可用于以高达250,000 x的放大倍数分析表面和材料。电子束是螺旋扫描的，允许使用者控制电子探针的大小和形状。此外，该单元还配备了亮场和差分干涉对比度（DIC）光学机器，允许在三个维度上观察小细节。该工具还配备了一系列探测器，允许捕获各种不同的图像类型。其中包括二次电子探测器、反向散射电子探测器、EDS探测器、SE2探测器、俄歇探测器和阴极发光探测器。利用这些探测器，用户能够分析各种材料并研究不同的表面特征。用户还可以在仪器上添加各种选项，包括自动图像缝合器、高真空操作、温度控制级、应变量具分析资产和气体注入模型。这些选项将允许用户扩展各种应用程序的JSM 6700F功能。最后，JSM 6700 F设备附带了先进的软件，允许仪器的完全控制和自动化。该软件还提供数据分析和成像工具，包括生成电子探测器图的工具。这使得系统成为高级表面分析和成像的理想选择。