二手 JEOL JSM 6700F #9356046 待售

JEOL JSM 6700Fis一种高性能场发射扫描电子显微镜（FESEM）。它配备了多模探测器，能够在二次和反向散射电子模式下成像。这使得显微镜可以同时用于成像和分析应用。显微镜还装有可"插拔"的柱内孔径系统。这有助于角度相关成像与可变光束收敛允许精细细节在复杂的样品进行解析。主FESEM成像具有良好的图像质量和灵活性。这要归功于其超高亮度源以及加速电压和光束电流等可调节的工作参数。FESEM还具有完全数字化的硬件和软件控制,可以通过用户界面远程操作。FESEM还配备了自动级扫描系统。这允许在多个方向上扫描示例,并具有自动到位置的可重复性。舞台还有一个集成的真空旋转舞台，用于3D成像功能。JEOL 6700F FESEM还具有多种分析技术。它可以用于能量色散X射线光谱（EDS）和波长色散X射线光谱（WEDS）。这些工具可以提供样本成分的元素分析（定性和定量）。此外，FESEM还可用于电子能量损失光谱（EELS）测量，用于鉴定和量化样品中的不同化学键。总体而言,JEOL JSM 6700F是一种功能强大且用途广泛的工具,可用于分析成像和分析应用中的材料。它的高性能特点和进行精密分析测量的能力使其成为材料科学、纳米技术和半导体器件制造领域研究人员的宝贵仪器。