二手 JEOL JSM 6700F #9402131 待售
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ID: 9402131
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Computer control
Imaging
Semi in-lens
Resolution: 1280 x 1024 Pixels
EDS with variety of detectors
GUI Interface
Mouse
Operating system: Windows 7
Cold cathode field emission electron gun
Electromagnetic deflection alignment
Conical objective lens
Conical FE Gun
Specimen chamber, 8"
Resolution:
1.0 nm at 15 kV
2.2 nm at 1 kV
Magnification:
LM Mode: 25 - 19,000
SEM Mode: 100 - 650,000
Modes of operation:
Secondary Electron (SE) mode
With lower SE Detector
In-Lens detector with voltage filter
Backscattered Electron (BSE) mode
With retractable solid state
THERMONORAN VANTAGE X-Ray microanalysis system
Power supply:
Accelerating voltage: 0.5 - 30kV
Specimen illumination current: 10^-13A to 2 x 10^-9A.
JEOL JSM 6700F是一种高性能扫描电子显微镜（SEM）。这种特殊的SEM用途广泛,具有高级成像功能,是许多高级成像应用程序的绝佳选择。JEOL JSM 6700 F采用场发射枪（FEG）电子源设计构造，确保了优异的能量分辨率和最小的束流。该型号配备了Everard Tilly镜头内离子探测器和OMISA Omnispectral探测器，提供了最佳的图像聚焦和质量，同时提供了广泛的成像能力。JSM 6700F的其他特点包括数字扫描控制系统、亮光照明器、具有衍射能力的离子探测器和高分辨率数码相机系统。JSM 6700 F能够提供高达1.5 nm或更低的出色成像分辨率,非常适合复杂的应用,如细胞结构和粒子表面地形的小规模成像。此外，它的自动扫描控制系统允许快速和精确的样本导航和成像，从而提高效率和可靠性。该模型还具有场发射和二次电子成像功能，使用户能够捕捉地形和组成细节。JEOL JSM 6700F是一个强大、可靠和通用的SEM,旨在满足最高的成像和分析要求。它是寻求对各种样品进行详细成像和分析的理想工具，从细胞和纳米粒子到材料和集成电路。该型号具有用于增强成像控制的数码相机、用于样品查看的亮光照明器以及广泛的成像和分析能力，使其成为广泛实验应用的理想选择。
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