二手 JEOL JSM 7000F #293634856 待售
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ID: 293634856
优质的: 2004
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Oxford EDS and WDS
2004 vintage.
JEOL JSM 7000F是一种扫描电子显微镜(SEM),用于观察多种材料的表面和结构。设备装备齐全,可以处理先进的成像和分析需求,如3 D表面成像、高分辨率成像、EDS、WDS、高分辨率晶格成像、X射线映射等等。SEM技术是检查从有机到无机、金属、矿物、晶体等多种材料的宝贵工具。例如,JEOL JSM 7000 F能够在使用钨丝电子源时产生分辨率大于3 nm的图像。它具有10,000 μ m/s的超高扫描速度,可以快速扫描物体,而高真空室则可以更详细地检查较大的区域。这一系统的其他特点还包括UPS野外发射枪(FEG),能够对尺寸小至2 nm的样品进行高分辨率成像,由于操作压力较低而性能更快,以及进行现场实验的潜力。该单元包括各种成像配件,如干涉滤波器、舞台立管和固定器,以及实验期间可用于操纵元件的其他机械元件。此外,先进的能量色散光谱学(EDS)、波长色散光谱学(WDS)和X射线映射功能允许用户对他们的样本进行更详细的分析。在分析应用方面,JSM 7000F可用于对多种材料进行元素映射,如金属、合金、生物材料、半导体等等。它能够在原子和纳米级的水平上成像材料,加上FEG枪可以对更小的物体成像。再者,机器配备了多种软件包,允许用户捕获、分析和操纵来自不同样本类型的图像。总体而言,JSM 7000 F是一种先进可靠的扫描电子显微镜,适用于从成像到元素映射的一系列应用。它的功能,例如超高分辨率增强用户功能,使其成为满足高级成像和分析需求的理想选择。
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