二手 JEOL JSM 7000F #293748718 待售
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ID: 293748718
优质的: 2012
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Electron gun: Schottky field emission
Electromagnetic deflection
Conical objective lens
Specimen chamber, 8"
Working distance: 2 to 40 mm
Specimen illumination: 0.1 pA to 10 nA
Resolution:1.2 nm at 30kV to 3 nm at 1kV
Magnification:
LM Mode: 10x to 19,000x
SEM Mode: 100x to 500,000x
Power supply: 0.5 to 30kV.
JEOL JSM 7000F是JEOL开发的扫描电子显微镜（SEM），作为其扫描电子显微镜7000F系列的一部分。它是以前6000F的更新版本,并具有高级功能,可实现精确的成像和分析。JEOL JSM 7000 F是一种温度控制的SEM，利用冷场发射器产生聚焦的电子束。该波束被引导到样本，然后与6000F模型相比返回增强信号。这使7000F能够获得更高的分辨率。此外,由于改进了聚焦深度,7000F能够生成更精确和增强的样品3D图像。其自动聚焦启用系统（AFES）有助于实现每张图像的最佳聚焦。JSM 7000F还利用其较大的工作距离（标本与物镜之间的距离可达33mm）来产生清晰的图像,而不需要样品与透镜直接接触。这种较大的工作距离使得7000F非常适合成像容易损坏的样品，例如纳米材料。JSM 7000 F还具有自动化阶段,在移动样品时可提高稳定性和可靠性。加上它的高柔韧性，可以用来研究广泛的样本，包括各种形状和大小的材料。该7000F还能够调查高温材料，以及冷冻样品到-100摄氏度。这是通过使用Gatan Enfinium冷冻级和液氮冷却配件实现的，允许使用者拍摄被冷冻的样品的高质量图像。JEOL JSM 7000F能够生成详细的高分辨率图像,并且仍然是研究几乎任何类型的成像和分析样本的有效工具。其改进的信噪比、灵活的设计和自动化的阶段，仍然是一个重要的仪器，帮助研究人员调查样品的准确性和精确度。
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