二手 JEOL JSM 7000F #293811118 待售

JEOL JSM 7000F是一种扫描电子显微镜，用于成像和分析材料科学中样品的物理和化学成分。SEM使用聚焦电子束扫描样品，生成放大图像和元素图，其精度和分辨率均达到纳米级。这种特殊型号的SEM配备了三束炮，它提供了各种成像和分析应用所需的一系列光束能量和电流密度。它装有冷场发射枪（FEG），源的阳极电压范围10-30kV，最大分辨率为3nm。FEG提供的附加光束电流可显着改善图像对比度和分辨率。该7000F具有全自动采样阶段、集成的自动导航、自动EDS和GridLine扫描,以及加速的驻留时间,可实现高速成像。它还与各种样品类型兼容，包括薄膜、纳米结构、半导体和有机材料，以及用于元素分析的能量色散X射线光谱（EDS）。该7000F采用专用的高速图像处理卡和高光圈镜头系统，能够快速、准确地跟踪和处理图像。该卡还可以轻松集成一系列接口和应用,如自动导航、高分辨率成像、反向散射电子成像、自动目标区域扫描和元素映射。该7000F具有先进的成像能力,并采用高质量的材料构建,以最大限度地提高其耐用性和性能。其集成的探测器和电子设备非常适合成像和分析需求，而直观的界面则便于操作和控制。总体而言,JEOL JSM 7000 F是一款高度先进的SEM,它为各种材料提供无与伦比的成像和分析功能。其先进的特性、直观的界面和全面的性能使这种显微镜成为材料研究人员和应用如故障分析、质量控制、纳米材料表征等的理想选择。