二手 JEOL JSM 7000F #293824803 待售

ID: 293824803
优质的: 2008
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) 2008 vintage.
JEOL JSM 7000F是一种扫描电子显微镜(SEM),用于亚微米级的成像和分析。它配备了包括高分辨率成像、分析能力和冷场发射枪(FEG)在内的先进功能。JEOL JSM 7000 F利用FEG作为其电子源,为STEM成像和低kV EDX等低压应用提供了更高的亮度和更好的性能。JSM 7000F配备高分辨率凹面镜,在高达30kV的高压下运行。它能够在15kV时产生分辨率为1.0 nm的高分辨率成像。此外,JSM 7000 F可以在静态和动态扫描模式下运行,这为SEM用户提供了多功能性。JEOL JSM 7000F还可以配备EDX、WDX、CL等全方位探测器和分析系统。由于电子枪在较冷的温度下运作,因此能够更大的稳定性,导致EDX的性能得到改善。WDX和CL还提供了被研究样品的增强元素和组成信息。对于成像,JEOL JSM 7000 F根据应用使用了一系列操作模式。SEM成像分别通过标准二次电子(SEM)和反向散射电子(BSE)实现低对比度和高对比度图像。此外,显微镜还可以在扫描透射电子显微镜(STEM)模式下成像,提供微米大小物体的横截面成像。总之,JSM 7000F是一种坚固、高分辨率的扫描电子显微镜,具有很好的成像和分析能力。先进的FEG电子源提供卓越的性能,其静态和动态扫描模式使其成为许多应用的理想仪器。
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