二手 JEOL JSM 7000F #9145727 待售

JEOL JSM 7000F是一种高性能扫描电子显微镜（SEM），专为卓越的成像和精确的分析能力而设计。它配备了场发射电子源和环境友好型Tribo-gun™，用于提高入射电子电流和改进对比度。与传统的SEM相比，该光束具有最大的30kV加速电压，可提供优异的分辨率和更大的聚焦深度。其他特徵包括冷场排放、1-2nm左右的小斑点大小、高亮度和最小散光。JEOL JSM 7000 F为广泛的材料和应用提供独特的成像能力，包括半导体、纳米材料、复合材料、医学标本等等。电子源为高导电和/或磁性材料在比典型的SEM系统更低的电压下成像提供了出色的超低压成像。高分辨率成像功能允许您轻松地识别细微的特征和缺陷,而优越的景深允许对样品的任何部分进行可靠的定量测量。显微镜还配备了同轴炮透镜系统，工作距离为12-36mm。这使用户能够轻松快速地更改工作距离和分辨率。JSM 7000F还配备了自动化对比度和亮度调整、多个视图领域的同时成像以及自动对焦调整等高级成像工具。出于分析目的，JSM 7000 F配备了完全集成的EDS探测器。这种能量色散光谱技术经过优化，可以在广泛的应用中进行快速、准确的元素分析。精密采样级为扫描和X射线映射提供了平稳、快速的运动。总体而言，JEOL JSM 7000F是一种功能强大的高性能SEM，能够为各种样品提供出色的成像和准确的分析。其先进的电子源、精密样品级和集成的EDS检测器使其成为成像和元素分析的理想解决方桉。