二手 JEOL JSM 7000F #9279675 待售
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ID: 9279675
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Computer
Detectors:
Secondary Electron Image (SEI)
Backscatter (BEI-TOPO/COMPO)
Electron Backscatter Diffraction Detector (EBSD).
JEOL JSM 7000F是一种低压场发射扫描电子显微镜（SEM）。它是一个强大的工具，用于高放大倍数的表面成像和分析，允许对从软生物材料到硬金属和陶瓷物质的一系列材料进行高分辨率成像。JEOL JSM 7000 F使用肖特基电子场发射枪，允许发射背景噪声较低的高亮度电子。这可实现卓越的分辨率和对比度,图像分辨率高达2nm。高级软件系统进一步增强了SEM的高成像质量，具有一系列预设功能，可以针对不同类型的分析进行定制。JSM 7000F还具有可变压力室，它能够在从高真空到大气层的压力下运行。这允许在原生环境中观测标本，同时观察高压对观测和二次电子信号的影响。这个SEM的其他特徵包括一个大型的标本室，有机动的标本阶段和一个大的视野（高达50毫米），允许研究更大的样本。高速数字图像采集系统允许使用广泛的成像技术，如反向散射电子（BSE）、组成图（EDX）和相位/晶体学（EBSD）捕获每秒最多五帧。SEM非常用户友好,具有触摸屏显示屏和直观的用户界面,使用户能够轻松配置不同的设置和测量值。它还配有一系列专用配件，如探测器、标本架、样品制备系统和成像系统，允许为特定类型的分析定制JSM 7000 F。总体而言,JEOL JSM 7000F是一款用途极为广泛、功能强大的SEM,具有高分辨率成像和分析功能、可调压力室和用户友好界面。这些特性使其成为从材料科学到生命科学等各种成像和分析应用的理想仪器。
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