二手 JEOL JSM 7001F #293815937 待售

JEOL JSM 7001F扫描电子显微镜（SEM）是一种对纳米级材料进行表征的高度先进的分析仪器。此模型提供出色的分辨率,空间分辨率为1.0 nm,最小特征尺寸降至0.7 nm。电子束用于通过扫描样品表面并检测从样品反向散射的电子来创建图像。该仪器能够产生单色和彩色二次电子图像（SEIs）以及高分辨率的反向散射电子图像（BSEs）。可以实现多种分析技术，包括能量色散光谱（EDS）、高角度环形暗场成像（HAADF-STEM）、电子反向散射衍射（EBSD）。显微镜配有防污染装置，用于减少样品因电子束而产生的表面充电。JEOL 7001F SEM还具有三向原位阶段操作功能,可以从多个方向观察特征,而无需手动移动样品或物镜。该系统拥有20 keV的野外发射枪，提供高水平的光束电流稳定性和较低的图像漂移速率，保证了SEI对比度和亮度的稳定性。此外，显微镜使用最新的电子光学器件，能够达到最高水平的样品分析精度和细节。显微镜可以与几个成像和分析软件套件集成在一起，允许广泛的测量和分析能力。JEOL 7001F SEM是材料科学纳米级研究的绝佳选择，因为它具有很高的准确性、通用性和效率。