二手 JEOL JSM 7001F #9267101 待售

JEOL JSM 7001F是一种扫描电子显微镜（SEM），用于材料科学、生物学和工业分析领域的多种显微镜应用。凭借其EverVon成像设备、高分辨率BSE检测器、集成X射线能量色散光谱（EDS）系统以及可选的高分辨率EDS单元，是探索微观结构的强大设备。JEOL JSM-7001F的高分辨率成像能力源于其柱内电子光学，该光学具有EverVon二次电子探测器。此检测器生成非常高分辨率的曲面和接口图像,提供对样本组件的详细了解。集成的X射线EDS机器能够检测多达10个元素,空间分辨率高达0.3 μ m。这使用户能够快速轻松地绘制样品中的元素，并获得有关其化学成分的更多信息。此外,可选的高分辨率EDS工具可检测分辨率为0.2 μ m或更高的多达63个元素。JSM 7001F具有灵活的色谱柱设计，允许广泛的样品持有者，包括横截面、透射电子显微镜和X射线微分析的样本持有者。扫描级机动化，并装有用于定位样品的B轴倾斜装置。B轴倾斜不需要单独的测角仪。电动扫描阶段还为用户提供了对样品定位和移动的精确控制。在操作环境方面，JSM-7001F完全封闭，具有"智能"真空泵，可根据样品需求自动调节操作压力。此外,EverVon成像资产还具有数字成像和图像增强功能。最后，JEOL JSM 7001F配备了一系列用于切换、扫描和数据采集参数的自动化模式。总之，JEOL JSM-7001F是各种显微镜应用的理想选择。其高分辨率成像能力、集成的二次和X射线EDS系统,以及自动化模式允许对样品的结构和化学成分进行高效而完整的探索。