二手 JEOL JSM 7200F #9376080 待售

JEOL JSM 7200F扫描电子显微镜（SEM）是一种用于高分辨率和高通量成像分析的通用仪器。适用于广泛的应用，从材料科学到生物研究和工业检验。JSM 7200F利用电子光学器件和电子探测器阵列，制作出纳米级样品的详细图像。它的场发射枪电子源提供远束电流，即使在极低的放大倍率下，允许对硬和软材料都进行详细的成像。JEOL JSM 7200F还包含一系列自动化分析功能。能量色散X射线光谱（EDS）和波长色散X射线光谱（WDS）提供了样品的化学信息，而自动图像处理程序（MAPS）给出了样品地形的精确三维测量。JSM 7200F具有几种高分辨率成像模式，包括SEI和BSE，它们分别针对表面成像和弱吸收元件进行了优化。反向散射探测器（BAD）模式产生厚生物截面的高度敏感图像，而断层扫描扫描ADC（TSADC）模式则允许用户在单个图像中捕获3D样本的所有细节。JEOL JSM 7200F拥有宽敞的200毫米舞台,具有广泛的运动控制.其完整的平面图倾斜系统和6轴运动控制系统允许优化任何倾斜角度的成像。JSM 7200F通过其电动聚焦,可以跟踪整个样品表面,从而增强成像效果。JEOL JSM 7200F的高级功能包括用于抑制杂散束辐射的Beam Blanker、用于保持腔室清洁的自动碎片收集器以及用于保持样品温度稳定的集成冷却系统。JSM 7200F将严谨的设计与尖端技术相结合，使其成为广泛研究和工业应用的绝佳选择。其精湛的成像能力、广泛的分析工具和直观的用户界面，使其成为研究纳米科学和其他材料（包括硬质和软质）的理想工具。