二手 JEOL JSM 7400F #188813 待售

JEOL JSM 7400F是一种场发射扫描电子显微镜，设计用于超高分辨率成像和先进的纳米级分析应用。JSM 7400F能够对复杂结构表面分辨率低至1nm的样品进行成像和分析。这种显微镜上的场发射源可以提供优异的图像质量，并增加可达到的电流密度。其改进的阴极电流供应系统允许同时操作多个排放源，有助于提高整体性能。显微镜还提供了一大套辅助火炮和探测器，能够进行高度选择性的成像和分析。其中包括柱内双轴能量滤波器和镜内单轴低真空能量滤波器（LVEF）。JEOL JSM 7400F还为高级分析提供了大量附加功能。其高性能的EDX（能量色散X射线）和WDX（波长色散X射线）光谱仪使得获得定性和定量的元素分析成为可能。除此之外，JSM 7400F还配备了飞行时间二次离子质谱仪（ToF-SIMS），用于分析原子和表面结构特征以及对样品进行深度剖析。JEOL JSM 7400F提供了一套通用的软件功能。Shimadzu EPMA Viewer软件可以用来测量X射线图像，FST Mapping可以专注于特定的能量范围。此外,还可以选择使用具有EPMA功能的自动扫描软件,通过附加的模拟实现成像和分析过程的自动化。总而言之,JSM 7400F是一款先进的扫描电子显微镜,提供高分辨率成像、先进的纳米级分析功能和广泛的附加功能,使其成为寻求多功能、功能强大的SEM的用户的绝佳选择。