二手 JEOL JSM 7400F #9244470 待售

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ID: 9244470
Cold cathode Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Includes: (2) Work desks Motor control box EDAX Octane super EDS DELL CPU JEOL VP Microscope JEOL Controller HEWLETT PACKARD Monitor COMPAQ Keyboard COMPAQ CPU JEOL Rotary pump JEOL SMD-58040 Refrigerated circulating system Operating system: Windows 7.
JEOL JSM 7400F是一种高性能的下一代扫描电子显微镜(SEM),用于各种材料科学的成像和分析。它具有高度可靠和通用的设计,具有许多高级功能。JSM 7400F的核心是电子束柱,它采用肖特基场发射枪(FEG)来产生高度稳定的电子束。柱由两个独立的扫描线圈驱动,允许对电子束位置和收敛进行精细控制。该柱还有一个内置的高张力源,可以用来产生各种成像模式,包括二次电子(SE)和反向散射电子(BSE),可以用来在屏幕上产生对比度。样品中的微米级分辨率进一步增强了这一点。JEOL JSM 7400F的控制模块具有强大的软件,便于控制和自动化样品定位和参数设置。它的交互式图形用户界面使配置专门的成像任务变得容易,使用方便的触摸板控制仪器上提供的多个成像和分析包的使用。其中一些封装包括能量色散X射线光谱(EDX)、X射线映射和电子反向散射衍射(EBSD)。该7400F还带有自动校准功能,旨在确保精确的样品定心和扫描精度。JSM 7400F的一个主要特点是效率,因为高效的过滤和冷却特性减少了能源的使用。此外,它还配备了通风LED和闭环电气接地系统,可确保非常低的噪音。仪器的安全特性包括紧急停止按钮和激光安全联锁,在操作中断时提供即时安全关闭。JEOL JSM 7400F是从材料科学研究到工业故障分析等广泛应用的理想工具。它结合了高级功能、人体工程学设计和高性能,为研究人员和技术人员提供了可靠、强大的成像和分析工具。
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