二手 JEOL JSM 7400F #9272205 待售

JEOL JSM 7400F是一种最先进的扫描电子显微镜（SEM），经常用于材料和表面科学等多种应用。它具有丰富的功能和可用性,包括高分辨率成像、元素微分析和3D地形重建。JSM 7400F的核心是一个电磁垂直场透镜设备，它既能提供低至0.5 nm横向分辨率的高分辨率成像，又能增强景深。该系统与高分辨率二次电子探测器协同工作，可实现样品的最佳成像。与透镜单元耦合的是一台通用的X射线微分析机。这一工具使用户能够对各种能量范围内的样品进行非破坏性元素分析，这些能量范围广泛，从移到铀（B-U）。JEOL JSM 7400F进一步利用具有高电流密度和优越稳定性的环境场发射枪，提供原始成像电子。这种步枪非常适合高对比度成像，非常适合成像和分析绝缘材料等样品。此外，该单元还有一系列附件，如广泛的真空压力选项、几个物镜，以及一系列额外的用于EDX、WDX、BSD和其他分析的探测器。最后,JSM 7400F利用3D成像技术对样品进行地形成像.此技术允许用户从2D图像创建3D重建,从而能够准确了解曲面几何和形态。3 D成像资产可以与高分辨率电镀结合用于样品制备，以获得具有优越表面细节的高分辨率图像。总之，JEOL JSM 7400F是一种用于样品分析和成像的强大的扫描电子显微镜。它具有一系列特征，包括高分辨率成像、元素微分析以及用于对材料和表面进行详细分析的3D地形重建。JSM 7400F通过其先进的特点和多用途的设计，成为各领域研究的绝佳工具。