二手 JEOL JSM 7400F #9384379 待售

ID: 9384379
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) In-lens SE detector In-lens BSE detector NORAN Vantage EDS detector Secondary electron image resolution: 1.0 nm (Acc V 15 kV) 1.5 nm (Acc V 1 kV) Accelerating voltage: 1 to 2.9 kV (10 V Steps) 3 to 30 kV (100 V Steps) Magnification: x25 to 650,000 Imaging modes: Secondary Electron Image (SEI) Lower Secondary Electron Image (LEI) Specimen stage: Eucentric Type I X: 70 mm Y: 50 mm Z: 23.5 mm (WD 1.5 to 25 mm) Tilt: -5° to 70° Rotation: 360° Maximum specimen size: 204 nm Diameter x 10 mm Height Auto functions: Auto Focus (AFD) Auto Contrast and Brightness control (ACB) AFD+ACB Auto photo.
JEOL JSM 7400F是一种现场发射扫描电子显微镜(FESEM),设计用于材料科学和生物研究的一系列应用。JSM 7400F是一种先进的FESEM,具有集成的超高真空(UHV)设备和用于精确元素分析的高分辨率、能量色散X射线探测器。显微镜的电子源是一种六硼化移场发射枪(FEG),提供高分辨率成像,降低操作成本。FEG由有源可变电子枪控制(VEGC)系统提供动力,该系统精确控制电压、电流和枪角度以获得最佳性能。强大的高分辨率静电透镜配有可变冷凝器光圈和磁场膜片,用于精确的图像控制。JEOL JSM 7400F专为极高的信噪比而设计,提供前所未有的成像速度和灵敏度。它还提供了一种内置的低真空操作模式,允许与电气和机械敏感样品集成。能量滤波器提供的分辨率在0.9 eV以内,而柱内样品室容纳范围广泛的样品,从最小到最重的材料,包括生物标本。显微镜是一种精确的分析仪器,用先进的X射线探测器提供准确可靠的测量。能量色散光谱(EDS)单元允许鉴定样品的化学成分。集成波长色散光谱(WDS)机进一步提高了元素映射能力,灵敏度高,精度高。JSM 7400F能够在一定温度范围内运行,从室温(20 °C)到300 °C。它具有传统的镜头内探测器,大的样本室能够同时成像与多个探测器。JEOL JSM 7400F的人性化设计还包括组织良好的用户界面和导航控制台,允许易于使用和精确控制。JSM 7400F是一种先进的高性能场发射扫描电子显微镜,设计用于各种材料和生物样本的通用分析和成像。它使用先进的FEG和X射线探测器提供出色的成像分辨率、宽广的样品室以及可靠、准确的测试。JEOL JSM方便的用户界面和精确的分析能力7400F使其成为当今科学研究的可靠、前沿的选择。
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