二手 JEOL JSM 7401F #293750575 待售

JEOL JSM 7401F是一种用于高分辨率样品成像和分析的扫描电子显微镜（SEM）。这种仪器的最大放大倍数可达400,000X，是解决许多不同类型材料微观结构的有力工具。JEOL JSM-7401F提供超高真空和低真空模式的高质量成像，使其能够产生有机和无机样品的高度详细的图像和光谱数据。SEM以场发射枪电子源为特色，加上其FEG镜头提升了影像品质，降低了每次扫描的成本。该仪器具有较大的阶段，非常适合对大的样品区域进行成像和快速的样品扫描。它有几种成像模式，包括二次电子成像、反向散射电子成像，甚至阴极发光成像。SEM还能够根据用户的需要执行波长色散光谱（WDS）和能量色散光谱（EDS）。除了成像功能外，SEM还有一个导航系统，可以让用户快速导航大样本区域。这个导航系统可以帮助寻找各种感兴趣的领域，例如缺陷、缺陷，甚至样本中特定元素的存在。该仪器还允许用户以多种格式轻松存储和评估其成像结果，从而在对同一样本进行多次扫描时更容易进行数据比较。SEM具有板载PC,其内存容量大,便于数据管理和排序。此外，该仪器还与Windows OS兼容，以实现更高级的数据处理功能。综上所述，JSM 7401 F是一种非常先进和强大的扫描电子显微镜，适用于成像许多不同类型的样品。该仪器具有先进的成像功能、大舞台、高质量的图像分辨率和出色的数据管理选项,非常适合以最高的可用放大倍率解析微观特征。