二手 JEOL JSM 7401F #293751819 待售
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ID: 293751819
优质的: 2007
Scanning Electron Microscope (SEM)
SM 34080 Lower detector device
SM 36120 In-column faraday cup
SM 34100 Integrated beam current measurements
DE-IR Infrared video camera for sample chamber
SM 74071 High-resolution backscatter detector
SM 74130 STEM Detector for bright and dark field measurements
Operating system: XP SP2
2007 vintage.
JEOL JSM 7401F是JEOL生产的扫描电子显微镜(SEM)。JEOL JSM-7401F是一种场发射枪SEM,能够以高分辨率捕捉材料的详细图像。这种先进的SEM利用高性能场发射技术,结合了一个枪高压(GHT)电源,一个电子能量选择器,和一个Debri-prove腔室的优越成像。JSM 7401 F提供高分辨率二次电子(SE)成像和阴极发光(CL)成像,高分辨率、低电压成像的样品薄达50 nm。它还在15 kV时提供0.6 nm的高分辨率显示,具有出色的对比度和分辨率。对于卓越的成像,JSM-7401F采用了高标准的5微米光斑尺寸和5微米色差校正设备(CAC)。此外,先进的SEM还为具有低能二次电子的成像应用场提供了更大的动态范围。JSM-7401 F还具有强大的多束接口(CMBI)系统和多轴控制望远镜。这允许用户优化适合任何材料和应用的成像条件。此外,多光束接口单元提供实时视频扫描,允许快速扫描而不会出现图像模煳。JEOL JSM 7401 F设计为用户友好,并具有完全可配置的直观图形用户界面。此接口使使用SEM更简单、更易于学习。此外,SEM还支持一系列控制协议,包括以太网、VME和CAN。为了保证出色的成像和性能,JEOL JSM-7401 F配备了自动聚焦机构、光束轮廓控制机、侧面照明模块等先进功能。这些特性帮助用户准确聚焦光束,获得对比度和分辨率提高的样本图像。总体而言,JSM 7401F是一种用途广泛、功能强大的扫描电子显微镜,适用于广泛的材料和应用。它能够在低压下提供高分辨率图像,对50 nm以下的样品进行高性能成像,并提供有助于确保最佳成像的高级功能。
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