二手 JEOL JSM 7401F #9147359 待售
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ID: 9147359
Field emission scanning electron microscope (FE-SEM)
Resolution: 1.0nm (15kV), 1.5nm (1kV)
Magnification: 25x to 1,000,000x
Accelerating voltage: 0.1 to 30 kV
Probe current: 10^-13 to 2×10^-9 A
Electron gun: Cold field emission electron gun (Tungsten single crystal emitter)
Objective lens: Strongly excited low aberration conical lens
(3) Electron detectors:
Upper secondary electron in-lens detector (SEI)
Lower secondary electron detector (LEI)
Retractable backscattered electrons detector (RBEI)
IR Camera
Specimen chamber:
Diameter: 8"
Airlock type: 150 (Diameter) × 10 (Height) mm specimen holder
Specimen stage: Eucentric gioniometer stage
3-Axis computer controlled:
X-Y: 70×50mm
Rotation R: 360º
Manual handling of Z-axis: 1.5 up to 25mm
Tilt: -5° up to +70°
Specimen holders:
12.5 (Diameter) × 10(Height) mm
26 (Diameter) × 10(Height) mm
Wafer holders, 3"-4"
STEM Holder
Image process:
2/4 Divided display
Pseudo color
Image processing function (Sharpen, Gaussian, Smooth, Laplacian etc.)
Operating system: Windows XP
Supported image file formats: BMP, JPEG, TIFF
Vacuum system:
(3) Sputter ion pump units for Pgun~10-8Pa
DP-DP Series system
Fore-line trap for P specimen chamber ~ 10-5Pa
Oil rotary pump
2006 vintage.
JEOL JSM 7401F是一种常用于应用研究的扫描电子显微镜（SEM）。它以高质量的成像、精确的样本分析、精确的测量而闻名。这种扫描电子显微镜因其高分辨率和允许放大倍率高达200,000倍而脱颖而出。JEOL JSM-7401F包含了诸如用于产生稳定光束的高加速电压的野外发射枪（FEG）等功能，允许精确成像和分析。它还包含两个检测器-二级电子检测器和反向散射电子检测器-用于测量电子束与样品之间的相互作用。这被称为分析成像，是深入研究的有力工具。JSM 7401 F使用X射线探测器进行光谱，一种用于元素分析的技术。这有助于识别样品中的元素并确定原子组成。X射线探测器还允许X射线扫描、光斑分析和EDX映射-所有这些都用于可视化化学分布。对于高速图像捕获,JEOL JSM-7401 F包含多个图像捕获组件。它配备了高分辨率CCD相机，产生的数字图像噪音最小。"High Defocus"功能以更高的放大倍率提高图像质量,快速扫描技术可用于生成三维图像。除了成像和分析能力外，JSM-7401 F还以高精度级控制而闻名。它具有三个机动化自由度，以其较大的行进范围可以处理一系列样本量。也可以使用高分辨率控件旋转和聚焦样本。JSM 7401F是一种通用的扫描电子显微镜，可用于广泛的应用。它可用于检查样品表面是否有缺陷或分析材料的组成和结构。通过将一系列分析技术与高质量成像相结合，JSM-7401F以最小的努力产生精确的结果。
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