二手 JEOL JSM 7401F #9206955 待售

JEOL JSM 7401F是一种扫描电子显微镜（SEM），允许对标本材料进行高分辨率成像和表征。这是通过使用在样品上扫描的聚焦电子束来完成的。扫描的电子与材料相互作用，产生一个可以用来构造图像的信号。SEM在高真空或高压环境中运行,具体取决于所分析的样品材料的类型。高真空模式创造了一个低噪声的环境，以提高成像和表征的分辨率。在高压模式下，提供压力高达7 MPa的样品环境，诱导材料变形、分解等各种现象。JEOL JSM-7401F还附有电子光柱，提供最小光斑大小为0.5nm的扫描电子束，以最大限度地提高成像分辨率。此外，它还包括一个列内枪换器，允许交换不同类型的电子枪，例如野外发射枪（FEG），用于广泛的应用。SEM采用高速板系统构建，具有高精度XY级，最大扫描面积100 x 100mm，非常适合大面积快速成像。系统的光束加速电压可以在0.5-30 kV之间，其光束电流在0.2-50 nA之间。系统还配备了专用信号处理器，每秒可获取高达10千兆兆像素的信号数据。JSM 7401 F由计算机控制，具有集成的用户友好图形用户界面，以提高用户可访问性。所有相关的成像和信号处理控制参数都可以通过界面进行调整，包括检测和测量选项来分析不同的材料参数。最后,JSM 7401F具有软件包,可实现许多分析和分析功能,包括地形成像、构图成像、元素分析和3D建模。这种SEM是一种用途广泛的仪器，可以应用于各个领域，比如材料科学、自然科学和半导体。