二手 JEOL JSM 7401F #9229628 待售
看起来这件物品已经卖了。检查下面的类似产品或与我们联系,我们经验丰富的团队将为您找到它。
已售出
ID: 9229628
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Cold cathode FEG with immersion lenses
Bake-out board needs to be replaced
Equipped with:
OXFORD INCA 450 EDS
With INCA feature (Particle analysis) and HKL channel 5 EBSD.
JEOL JSM 7401F是一种扫描电子显微镜(SEM),由JEOL设计制造,利用电子束产生样品表面的高分辨率图像。SEM的主要部件是电子枪,它由发射电子的灯丝、一个阳极和聚焦元件组成,使电子加速并聚焦成束。然后将光束定向到样品上,并收集反射的电子以形成图像。JEOL JSM-7401F具有高质量的电子柱,能够在成像过程中达到稳定的性能。它还具有能色散光谱(EDS)检测器,可以检测产生的电子的能量。EDS检测器使用户能够区分样品中存在的各种元素,这对于材料分析非常有用。JSM 7401 F具有几个特点,使得它既适合研发应用。其中一个特征是高分辨率成像(高达0.5nm),这使得对曲面和内部结构进行详细研究成为可能。SEM还具有较低的真空模式,使用户能够在较低的真空水平下运行,允许以相对较快的速度检查非导电材料。除了成像能力外,SEM还有一个称为可变压力成像的功能。这使得操作条件从高真空变为低真空水平,然后电子可以在反射前进一步渗透到样品中。JSM-7401F也被设计为方便用户。SEM有一个数码相机和一个显示屏,用户可以在扫描过程中轻松监控样本。SEM也有一个自动化的阶段,允许精确的样品定位和扫描。总体而言,JEOL JSM 7401 F是一种高度通用的扫描电子显微镜,适用于电子显微镜、材料分析和表面研究的广泛应用。它具有出色的成像能力和功能,旨在确保高效可靠的操作。
还没有评论