二手 JEOL JSM 7500F #293641220 待售

JEOL JSM 7500F
ID: 293641220
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS.
JEOL JSM 7500F是一种扫描电子显微镜,用于对表面和样品特征进行高级成像和分析。这款SEM配备了一套先进的成像和分析能力,包括用于详细表面观察的阶段样品扫描、用于多个区域同时成像的多束电子柱,以及能够分析从金属和半导体到有机化合物的广泛材料。JEOL JSM-7500F高度灵敏,具有提供30千伏最大加速电压的电子柱和高速数据采集设备。系统每秒最多提供60张图像,图像大小可达2000 x 2000像素。它还有一个高速X射线映射单元,用于对材料进行精确成像。此外,该机还配备了高精度的计算机控制采样台,用于精确的采样位置。JSM 7500F还具有先进的分析能力,包括EDS/EDX光谱学,它允许同时对具有高分辨率元素映射的样品进行光谱分析。它还允许用电子束进行能量色散X射线成像,以获取基于X射线强度的图像。此外,JSM-7500F提供了高度自动化,具有图像处理和分析功能,可以对获取的数据进行操作和解释。它还配备了EBSD测量能力,允许晶体结构和晶界的自动映射。总之,JEOL JSM 7500F扫描电子显微镜是一种强大而可靠的材料表面成像和分析工具。它具有强大的成像能力和多用途的分析能力,非常适合希望分析各种复杂材料的实验室或研究机构。
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