二手 JEOL JSM 7500F #293643351 待售

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ID: 293643351
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 7500F是一种先进的扫描电子显微镜,用于检查材料的结构和表面。这类显微镜的工作原理是将聚焦的电子束发射到样品材料上,然后收集从样品反弹回来的电子信号。该显微镜用于观察高精度材料的组成和结构。JEOL JSM-7500F配备了四种不同的电子光学透镜,具有高分辨率成像能力。它是市场上分辨率最高的SEM之一,15kV时分辨率达到1.3nm。该仪器还配有广泛选择的各种应用的检测器,包括二次和反向散射电子检测器、用于元素分析的EDX检测器、阴极发光(CL)检测器和精确的高加速电压检测器。显微镜装有一个自动高速级,允许样品架在三个轴上移动和旋转。它还具有获得专利的"Smart Eye"自动对焦系统,该系统使对焦过程自动化,从而实现更快的成像和更准确的结果。此外,显微镜能够在低真空操作中成像样品,减少充电效应的发生,允许高分辨率成像,而无需耗时的样品涂层。此外,显微镜还配备了自动区域采集功能,该功能可自动测量样本的大面积区域,以确定目标成像的目标区域。所收集的图像可以使用机载软件套件进行操作,从而便于分析、准备比较图像序列以及集成多个图像数据集。该系统还专为易于使用而设计,具有触摸屏控制单元和用户可以快速访问和执行的各种预设操作。JSM 7500F是研究研究和工业应用材料的理想工具。
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