二手 JEOL JSM 7600F #293653209 待售
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ID: 293653209
优质的: 2009
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
EDAX
Resolution: 1.0 nm at 15kV
Accerlating voltage: 0.1 kV-30 kV
Magnification range: 25x-19000x
Prober current: 1 x 10^-13 order to ≥2x10^-7 A
Electron optics:
Conical anode gun (Schottky type, in-lens field emission)
Probe current range: <1 pA to >200 nA
Automatic gun isolation valve
Adjustable OL aperture strip
Scanning system:
Digital scan generator system
Digital scan rotation linked to kV and WD
Computer eucentric tilt compensation
Specimen chamber and stage
Vacuum
Chilller
Detector: Electron detector, Backscatter electron detector
Operating system: Windows 7 professional
2009 vintage.
JEOL JSM 7600F是一种扫描电子显微镜（SEM）.它包含许多高级功能和应用程序,使其能够用于广泛的示例分析。该显微镜用途广泛，可用于真空和环境模式，非常适合各种研究应用。JSM 7600F采用了最新的电子光学技术,提供了出色的分辨率和对比度.JEOL JSM 7600F的电子光学设计基于扫描视野。这种扫描模式用于让显微镜捕获不同焦深和角度的图像，从而产生更详细、高精度的图像。扫描模式还使显微镜能够产生对比度、分辨率和速度提高的数字图像。JSM 7600F还包括一个强大的能量分散X射线（EDX）光谱仪用于样品分析。EDX光谱仪使显微镜能够检测和测量元素之间的能级差异，给出详细的样品元素分析。这些读数可用于准确识别样本中存在的元素。此外，EDX光谱仪使用户能够测量和比较样品不同区域中元素的浓度。此外，JEOL JSM 7600F利用先进的软件进行图像处理和分析。此软件使用户能够轻松地处理和分析图像、生成3D图像以及从大量图像生成数据集。该软件还具有自动聚焦、自动视野和自动标本漂移校正等自动化功能。JSM 7600F是一种功能极其强大的多功能仪器,非常适合各种研究应用。它结合了先进的电子光学、EDX光谱仪和软件，使其成为一种通用可靠的样品分析工具。JEOL JSM 7600F是任何实验室研究材料或进行实验所必需的仪器。
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