二手 JEOL JSM 7600F #9037223 待售
看起来这件物品已经卖了。检查下面的类似产品或与我们联系,我们经验丰富的团队将为您找到它。
单击可缩放
已售出
ID: 9037223
优质的: 2012
Scanning electron microscope (SEM)
Field emissions
Complete set includes:
Edax imaging system (Ametek)
Type: Genesis Apex2 XL60
Probes
Detectors
HP workstation
Vacuum system
Closed loop water re-circulator
Low noise current pre-amplifier (Stamford Research)
Mod SR-570
Generation five PSU controller
Assoc. equipment
2012 vintage.
JEOL JSM 7600F是一种扫描电子显微镜(SEM),用于成像和分析从生物样品到无机样品的多种材料形态。7600F产生的图像和数据提供了非常高的分辨率,为研究人员、纳米技术人员和材料设计者提供了宝贵的信息。该7600F是一个场发射SEM,具有一个Berylium光学系统,它借助自动聚焦电子设备提供高达0.2 nm的超高分辨率,有助于自动调整对目标区域的聚焦。该系统包含一个Oxford INCA Energy™色散X射线(EDX)探测器,它允许用户检测样品发出的X射线辐射以识别元素组成。它提供高分辨率成像,即使是样品上最小的特征。此外,JSM 7600F还具有较高的并发和快速处理能力,使其能够在短时间内成像和处理大数据。板载软件允许用户最大限度地控制SEM和EDX条件,用于样品制备、放大和对比设置等。该装置具有刚性坚固的机器平台,为连续运行而建造,增加了设备的使用寿命。该7600F非常适合从半导体分析到纳米光刻等一系列应用,适用于各种样品,包括电路板、金属合金、晶体结构和有机化合物。足智多谋的设备还能够自动进行现场勘测和分析、故障分析和断层扫描。JEOL JSM 7600F结合了精确、严谨和高分辨率,为研究人员和材料设计师提供了强大的成像和分析工具。凭借先进的特性和功能,该设备非常适合各种应用,使其成为研究实验室和工程行业的宝贵资产。
还没有评论