二手 JEOL JSM 7600F #9285263 待售

JEOL JSM 7600F是一种高性能扫描电子显微镜（SEM），可用于以高分辨率捕获详细的结构和表面。它配备了场发射枪（FEG）电子源，这使得它可以在比其他大多数SEM更大的加速电压、更高的电流密度和更大的景深下运行。显微镜设计用于超高真空（UHV）条件下的操作，使其成为成像介电和有机样品的理想选择。显微镜配备了WDS（波长色散光谱）设备，使其能够识别和绘制样品表面上的元素。该系统能够检测到磷、钠、铝、硅等元素，用于材料分析。它还有一个EBSD（电子反向散射衍射）单元，可以确定样品的晶体结构。JSM 7600F由于具有高度灵敏度的探测器，能够产生高分辨率图像。其次级和反向散射电子探测器，结合其高分辨率物镜，能够捕获样品上的分数微米特征。此外，显微镜的EDX（能量色散X射线光谱）工具可以用来测定样品的成分。JEOL JSM 7600F具有各种成像模式，包括SEM、TEM（透射电子显微镜）和STEM（扫描透射电子显微镜）。显微镜还配备了自动晶片级，允许在多个表面上进行大规模成像。JSM 7600F有一个可容纳大样本量的大腔室，以及能够方便快速地装载样品的自动化样品传输系统。最后，显微镜附有一套高级软件，允许用户控制、监控和分析图像。此软件能够从多个SEM图像创建3D图像,并提供增强的可视化和分析工具。