二手 JEOL JSM 7800F #293616742 待售

JEOL JSM 7800F是一种高性能扫描电子显微镜（SEM），它结合了无与伦比的超高分辨率成像和一系列强大的分析能力。先进的JEOL JSM-7800F柱体系结构使得能够在所有操作模式下同时成像和分析，提供高分辨率、高对比度和低电子剂量的成像。精心设计的操作控件和用户友好的图形用户界面（GUI）使操作员能够从JSM 7800 F的高分辨率成像中获得最大收益。多用途绘制功能、强大的自动曝光控制以及集成的色度和自动对焦功能都有助于确保操作的成功,而且操作要求苛刻且具有挑战性。JSM 7800F可以配置有多种检测器,使操作员能够为预期的应用程序选择最佳的系统配置。二次电子（SE）、反向散射电子（BSE）、镜内（IL）探测器作为标准选项提供，飞行时间（TOF）探测器可加入元素分析。其他探测器包括用于纳米结构分析的低角度探测器、用于分析氧化物表面的高角度探测器以及用于测量特定元素的一系列探测器。JEOL JSM 7800 F的设计用途非常广泛,涵盖了广泛的样本量、形状和材料。广泛的样品持有者允许最佳的样品载荷和稳定的样品定位。可交换阳极提供超尖的微观分辨率，非常适合研究微观结构特征和纳米级特征。柱内能量滤波器在保证最佳图像对比度方面也灵活增加。JSM-7800F还包括视频取景和数字成像功能,可实现更快的样本加载和计算机控制扫描,以实现精确管理的多阶段分析。JEOL JSM 7800F还可以与一系列外围设备集成，如胶片/电影相机、激光扫描共聚焦显微镜和扫描隧道显微镜。总体而言,JEOL JSM-7800F提供高分辨率、超高速扫描和采样,以及广泛的多功能性和灵活性。先进的柱结构产生超高分辨率、低电子剂量成像，而检测器和可交换阳极的选择为广泛的材料提供了高质量的成像。此外,GUI和集成的数字成像功能允许更快的样品加载和计算机控制操作进行多阶段分析。